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白光干涉儀 詳細摘要:產(chǎn)品用途:
產(chǎn)品型號: 所在地:蘇州市 更新時間:2024-11-06 在線留言
結(jié)合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優(yōu)點,可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用
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詳細摘要:產(chǎn)品用途:
結(jié)合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優(yōu)點,可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用